儀器型號: 同步輻射光源測試范圍: 同步輻射 XRD 常用于結構分析,物相鑒定,與常規(guī)X 光相比,同步輻射光波長在大范圍內連續(xù)可調,且準直性好,研究的尺度范圍和分辨均優(yōu)于常規(guī) X 光;同步輻射 SAXS 可探測樣品內電子密度起伏,研究樣品內缺陷和顆粒的尺寸、形狀及其分布密度。結果展示同步輻射XRD的結果為txt原始數據,需自行做圖:樣品要求XRD或PDF可以測粉末樣品請準備至少20mg,0.1g以上最好。需要粒度均勻(粒度在45um左右或過200目篩子),手摸無顆粒感,面粉質感;塊狀樣品要求長寬1-2cm(一般不小于1cm),厚度5mm以下。