項目簡介以三維視角在亞納米尺度揭示材料內(nèi)部所有元素的分布。針對材料研發(fā)中令人棘手的測量和分析方面難題,三維原子探針為研究者提供原子量級分辨率的材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維成分圖像,分析靈敏度接近百萬分之一,特別適合于研究納米尺度的微小結(jié)構(gòu)(沉淀、團簇、GP區(qū)等)以及各種內(nèi)界面(晶界、相界、多層膜結(jié)構(gòu)中的層間界面等),使用該設(shè)備可觀測和研究元素在界面的偏聚行為,微小沉淀相的尺寸、分布以及成分。結(jié)果展示樣品要求一般APT樣品的針尖尺寸??傻絝ib界面下單制備樣品:聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM) 一般至少要制備2-3根針尖備用,測試過程中針尖可能會斷(這是這個測試不可避免的風(fēng)險,需要您自己承擔(dān))常見問題1. 粉末能不能做APT答:納米級別的粉末不可以,微米級別的可以具體評估下。