項(xiàng)目簡(jiǎn)介可做項(xiàng)目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS 用途及功能：形貌觀察：對(duì)各種材料內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行二維顯微形貌觀察，包括常見(jiàn)的粉末、納米顆粒形貌和粒徑觀察；配合三維重構(gòu)可以得到三維立體形貌；結(jié)構(gòu)分析：利用選區(qū)電子衍射、高分辨透射圖像、高分辨掃描透射圖像等分析材料的結(jié)構(gòu)成分分析：配合能譜儀可以對(duì)樣品元素做點(diǎn)、線、面、體分布分析，可以得到原子分辨率的元素面分布圖像結(jié)果展示樣品要求1、塊體用fib制樣，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；2、納米顆?；蛘呒{米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣；3、含磁性元素的樣品必須提供粉末用于驗(yàn)證磁性；4、可提供寄樣，云視頻，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試服務(wù)。常見(jiàn)問(wèn)題1. 樣品為什么會(huì)積碳，積碳有什么影響？答：樣品中有機(jī)物的影響，制備過(guò)程含有機(jī)物，或者樣品吸附空氣中污染物；積碳會(huì)影響STEM模式的拍攝效果，讓視野模糊不清。2. 有什么方法可以改善積碳帶來(lái)的影響？是否一定有用？答：等離子清洗制好樣的載網(wǎng)，但有洗壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)，可以會(huì)導(dǎo)致負(fù)載顆粒脫落等風(fēng)險(xiǎn)；電子束輻照樣品一段時(shí)間，理論上會(huì)有改善，但是實(shí)際不一定會(huì)有明顯效果。3. 我要拍的單原子，為什么整片區(qū)域都是很亮的，看不清單個(gè)的？答：樣品太厚，或者負(fù)載量太大等。4. 為什么拍不到原子分辨率的mapping和eels？答：原子相要求樣品很薄，樣品薄的話能譜信號(hào)和eels號(hào)會(huì)比較弱，不利于收集信號(hào)。那就要求樣品很薄，很穩(wěn)定，能長(zhǎng)時(shí)間收集信號(hào)，且要求原子序數(shù)都比較大的。一般樣品很難同時(shí)符合這幾個(gè)要求。5. 拍球差的樣品為什么要很薄？答：薄的樣品可以減少電子在樣品中的彈射次數(shù)，分辨率就會(huì)比較高。6. 樣品很厚是不是制樣沒(méi)超聲好？答：球差一般是拍樣品邊緣幾個(gè)nm的區(qū)域，所以對(duì)于原子相樣品團(tuán)聚不會(huì)影響到拍攝效果，但樣品本身很厚就會(huì)有影響，這個(gè)與超聲分散的效果沒(méi)有關(guān)系，與樣品本身的厚薄有關(guān)。
